近场测试探棒

品名：Near Field Probe

      近場測試棒

前言

    現今的電子產品都以符合小型化、高性能、高信賴度及高反應度等目標，使得電路元件的分布密度過高，電路的體積大大的縮小，然而電路變得越精巧，則會有很多的元件擠在很小的空間當中，增加干擾的機會；其中又以電磁干擾（Electromagnetic interference , EMI）及雜訊最令人感到困擾。

    電磁干擾問題的考量，長久以來一直是電子裝備及系統在設計上的一大盲點！此乃因電磁干擾所牽涉的因素繁多，以及處理時所需的專業知識較廣的關係，然而由於科技產業的高度競爭，新產品的生命週期越來越短，使的我們不得不尋求EMI問題快速解決的方式，來縮短產品研發的時間，以期能搶佔市場的先機。

     正確的選擇EMI測試設備，是準備著手於EMI放射測試者的入門基本要求，從事EMI測試，無非是要使產品通過認證，使用簡單的設備來做先期pre-test測試，減少不必要的錯誤測試,其中無形 Pre-test 減少往返實驗室的時間與金錢，一次就做好，是設計人員最大的希望，正所謂『工欲善其事，必先利其器』，而CHB7405 EMI探棒組就是您在EMI pre-test 最好的利器。

CHB7405  EMI探棒組

磁場環型探棒 * 2 PCS

電場殘牙探棒 * 1 PCS

探針探棒     * 1 PCS

轉接頭       * 2 PCS

RF cable      * 2 PCS

Probe Technical Data

中冀聯合(亞洲)集團有限公司 CHBUTC (ASIA) GROUP CO.,LTD.

深圳市中冀聯合通訊技術有限公司　SHENZHEN CHBUTC TECHNOLOGIES CO., Ltd

苏州分公司：曾宽胜 Jhony Zeng 

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