医疗器械检测
表面涂层处理，牙齿和屏蔽线的缺陷检测
1.1 纵览
IPD视觉系统首要目标的是医疗器械的检测表面涂层缺陷。由于工具的形状复杂和各种照明技术，所以要求3个独立视觉系统执行所有检查。
1.2 应用需求
视觉要求：
检测表面涂层（身体，颈部，头部）的污点
检测表面涂层（身体，颈部和头部）的污点和疤痕，检测表面涂层（身体，颈部和头部）的孔洞或孔
检测位于和表面涂层（身体，颈部，头部及陶瓷上述屏蔽线）的毛刺和模糊点。
检测有缺口的陶瓷
检测飞溅在陶瓷涂料上的污点和污渍
沿着掩蔽线检测涂层缺陷
检测牙齿上的涂层
测量牙齿高度（又名高锅）
图1 。医疗器械
一般硬件要求：
视觉站 ＃ 1
1个VA- 50视觉系统
1个高分辨率（ 8192K）的线扫描相机**
漫射照明
** 2个如果单周期需要可以用来检查的一部分的线扫描相机。（见视觉站＃ 1节）
视觉站＃ 2
1个VA- 40视觉系统
3个标准的分辨率（ 640H x 480V ）面扫描相机
LED投光灯
定制的轻灯罩
视觉站＃ 3
1个VA- 40视觉系统
3个标准的分辨率（ 640H x 480V ）面扫描相机
1个标准的固件可升级的相机
3个高强度射灯
1个环光
1.3 视觉站 #1
视觉站＃ 1 ，只有仪器将检查污点，麻点和凹点，一直检测到颈部或肘部。在视觉站＃ 1有两个检测方案可选择 。第一种方案，需要仪器使用单一线扫描相机在2个周期通过视觉检测系统。第二种选择需要2个同步线扫描相机在单一周期完成检查。第一种选择的优势是从视觉系统的角度降低了成本并且配置更简单，第二个备选方案的优势，主要是整体效率。可以再更短的时间内用仪器完成检测，因为只有一个周期是必要的。
第一种方案将利用一个单一的线扫描相机，并且仪器通过视觉系统2个周期。在第一个周期，该仪器阶段推进，因此相机可以检查的仪器的上半部分（见图2 ） 。该仪器将旋转360度，因此线扫描相机可以全面检查。在第二个周期，仪器将检查阶段着仪器的下半部（见图3 ）和相同的重复检查。
第二种选择将在一个周期中完成检查（见图4 ） 。该仪器的阶段迈进的位置和旋转360度。两个同步线扫描相机将保证百分之百覆盖略有重叠区域的图像，
单摄像头（ 第二阶段检查）：
8K型线扫描相机
1
仪器阶段推进
图片 2. 第一阶段检查
8K型线扫描相机
1
360度旋转巢
图4 。单级相机使用2个同步检测仪器
IPD 视觉图片
污点：
下面代表一个取自视觉站＃ 1的图片 。图片代表约10毫米纵断面的仪器的主要机构。此图片显示了样品上的污点之一。
污点
污点
图5 。线扫描相机图像显示仪器的污点
通过漫射照明，污点可以从背景中分离出来。该仪器在涂层表面可能会或可能不会有不能从真正的瑕疵中分离出来的自然污点。然而，在这种情况下，显然增加了污点数量，这远远超过目前'正常'的面点。污点马克似乎在比自然污点较深的涂层上。
毛刺和模糊：
下面是一个取从视觉站＃ 1的代表图片 。代表约10毫米纵断面的文书的主要机构。此图片显示的毛刺和模糊的一个样。
模糊
毛刺
图6 。线扫描相机图像显示毛刺和模糊的仪器
1.4视觉站＃ 2
视觉站＃ 2 ， 3个周边相机间隔120度除了用来检查屏蔽线和头部侧的污点（主要是毛刺，模糊和黑暗马克） 。此外，陶瓷区域进行检查，查验有无涂层飞溅和染色。一个高锅'检查也表现在这个站。
两个照明技术需要在这个站：轻型灯罩创造软弥漫照明的侧壁显示污点的标志，包括陶瓷的污点和射灯以上图像提供了强有力的陶瓷涂层之间的对比，。
图7 。视觉站＃ 2配置
请注意，提供了评价的工具以适应两种不同的模式，对视觉系统展现同一位置的部分需要不同的架构，因为形状，颈部和体长之间有不同的模式（见图7 ）
IPD 视觉图片
掩蔽线缺陷：
下面是一个取从视觉站＃ 2的代表图片使用射灯照明。图片代表约120度，侧剖面仪器头。这些图片在下面的数字8和第9行显示掩蔽缺陷的样品提供。
边缘涂层
图8 。掩蔽线边缘的条码
参考线跨越陶瓷可用于评价屏蔽线，采取测量这条线的涂层。
(1) (2)
(3) (4)
图片9 提供的掩蔽线剖面的所有缺陷样品
污点缺陷（涂层/染色陶瓷） ：
下面是一个取从视觉站＃ 2的代表图片了使用射灯照明。图片代表约120度，侧剖面仪器头。图10显示四溅涂层和图11显示在陶瓷区域的染色。
涂层陶瓷区域
图10 。泼涂层陶瓷
彩色陶瓷
图11 。彩色陶瓷
污点缺陷（毛刺和/或模糊的侧壁）：
下面是一个在弥漫照明下取从视觉站＃ 2的代表图片。图片代表约120度，侧剖面仪器头。图12显示了毛刺纤维在涂层侧壁区域。
毛刺中嵌入涂层
图12 。毛刺纤维中嵌入涂层
涂层缺陷：
下面是一个取从视觉站＃ 2 的代表图片。图片代表约120度，侧剖面仪器头。图13显示了表面空穴或无效的涂层侧壁区域
真空镀膜
图13 。孔镀层
波尔布特（牙）测量：
下面是一个取从视觉站＃ 2的代表图片 。图片代表约120度，侧剖面文书头。图14显示了测量，从牙齿顶端边缘的陶瓷
图14 。高锅测量
1.4视觉站＃ 3
视觉站＃ 3 ， 3个周边相机间隔120度除了用来检查侧颈部主要用于污点，麻点标记和点蚀。此配置类似视觉站＃ 2 ，然而，四分之一相机和环轻是增加检查的锅面涂层。
相机 4
(固件)
3
仪器模型 (2)
相机 2
图15 。视觉站＃ 3配置
两个阶段所需要的站，因为第一次检查侧壁侧壁区域然后颈部区域。在第一阶段，该部分将被迁往垂直的位置，以检查侧壁。在第二阶段，该文书将进一步上升阶段的颈部区域形象。第4次以上的相机可以检查锅面第一个或第二阶段。
同时提供了评价的工具以适应两种不同的模式，对视觉系统展现同一位置的部分需要不同的架构，因为形状，颈部和体长之间有不同的模式（见图7 ）
IPD 视觉图片
有缺口的陶瓷
下面是一个取从视觉站＃ 3的代表图片 。图片代表了顶端查看俯视的头部。图16显示一个小的陶瓷芯片在从一个样品提供。在该面的缺口上有轻微的对比变化（而不是白色的）。
有缺口的陶瓷
（接受）
图片16有缺口的陶瓷
注意：提供的样本表明这一数额相近是可以接受的;但是，它仍然可探测。
牙上涂料：
下面是一个取从视觉站＃ 3 的代表图片。图片代表在头向下看去。图17显示一些牙齿区的涂层材料。
在牙齿面的涂料
图17 。涂料在牙齿面
麻点：
下面是一个取从视觉站＃ 3 的代表图片。图片代表约120度，侧剖面仪器头。 18日和19日的数字显示在涂层沿侧壁和颈部的麻点。
沿颈部的麻点
图18 。沿颈部的麻点（第二阶段）
。
1.5 视觉应用
1 。总体周期时间未知
总周期时间检查的一种手段不明。
2 。最低缺损大小未知
一个8K型高分辨率线扫描的基础上，提出提供样品的缺陷，但起码有缺陷尺寸检测未指定。
在这一评价，一个10毫米部分文书影像与1000线扫描相机，模拟一个真正的8K型扫描。所有的污点点，麻点标志，并在凹点站提供的样品被检出在这项分辨率。最小的缺陷探测这一分辨率是在大约0.05毫米（见图20段） 。
实际缺损大小
(5 x 5 像素)
1 像素 = 0.01
图20 。最小检出缺陷尺寸
较低分辨率的相机被选为侧壁和颈部，因为该面视察较小，大约3的4毫米视野。更高的分辨率扫描相机领域可以利用的侧壁和颈部区域，如果规模较小的缺陷需要加以检测。
3 。热点
一个令人关注的是一个仪器的脖子上的部分，是非常困难的照亮。最困难的缺陷检测在这一领域的麻点马克和凹点站。理想的照明，从而发现这些缺陷需要一个理想的光源来从一个角度，但是，这会导致'热'的位置上仪器的表面。见图片如下：
亮点反射
图21 。由于照明角度的亮点反射，
这些热点可能隐藏小，单点缺陷，致盲或饱和的相机传感器由于角度照明和复杂的曲率的脖子上，不论在光源位置。热点可以消除非常弥漫照明，但是，凹缺陷的性质，如麻点和坑下不容易看到这样的照明。如果缺损所看到的一些那可能是检测。样本将必须提供麻点和坑在这一面，以确切知道他们是否可以被检测。
3 。在牙齿的涂料检查
在关注这次视察是同锅或牙齿没有同心与陶瓷编号因而难以侦测小块涂料递交之间的陶瓷和金属（见图22 ） 。潜在缺陷在这方面是否可以察觉的差距过于狭隘。
非同心 同心
图22 。金属罐不同心陶瓷
