随着科技的进步，电子产品体积能越做越小、越来越轻量，但功能与效能方面却较以往更为齐全，而越精巧的元件，则需要越高的制程技术。台达针对小型被动元件检测需求推出AI六面检查机，结合AOI + AI外观检查机，可应用于被动元件、集成电路、LED、陶瓷导热片等电子元件，检测外观不良、有缺陷的产品。
而小型元件中，又以高频晶片陶瓷元件 (LTCC) 所需检验技术最高，其材料性质特殊，外观检测不易，通常使用于产品质量要求极高的无线通讯行业。针对客户需求，台达将AI六面检查机导入某无线通讯行业客户制程，成功提升其高频晶片陶瓷元件的不良品检出率。
图1 台达AI六面检查机结合AOI（自动光学检查）与AI（人工智能）专利技术，提高检测速度、效率以及质量
传统的LTCC元件多为人员目检，在检查速度、精度及稳定性上，皆无法满足产能及品质水准。后来改以AOI (自动光学检查) 设备做检测，其检测效率大幅提升，但对于产品的变异性仍不易侦测出，除了容易造成误判、漏判外、也需要耗费大量的人力进行参数调整。台达AI六面检查机保留原有AOI优势外，更加入了深度学习的功能，当系统自动学习一定数量的正常产品及缺陷产品影像后，便能自动将正常产品及缺陷产品分类，有效克服AOI难以检出的暗裂及微裂等瑕疵，提升产品检出率与检出速度，节省作业时间、并减少产品误判率。
AI六面检查机设备检测流程：整批料件进入台达AI六面检查机内建的震动盘内，经过整料后，放入玻璃盘进行带动，高速检测转盘将电子料件运送至彩色CCD检测站 (台达AOI检测) 进行六个面的检查 (前照检测、下照检测、右照检测、左照检测、后照检测、上照检测)，另外，台达AI六面检查机预留两个检测站作为备用检测使用，客户可自行输入电脑影像处理演算法于CCD检测站，进行自动光学检测，再经过台达AI人工智能检测系统，能有效克服AOI难以检出的暗裂及微裂等瑕疵，最后进行分料作业，杜绝将不良产品流至客户端。
图2 台达视觉检测技术可检查外观不良、有缺陷的产品，大幅提升良率，减少客户产品的批退率
客户在导入台达AI六面检查机后带来的优势包含：
●提升产品检出速度，节省作业时间：
台达检测系统运行稳定，支持高速检测，检测速度可达8,000 pcs / min，大幅提升检测效率；可针对客户需求，量身打造检测演算法，其AI检测系统结合人工智能，持续优化制程，并支持快速换线、强化离线检出调整系统，优化人员调整效率，降低人工目检造成的品质不稳定与人力成本。
●提升产品检出率，减少产品误判率：
台达 AOI + AI 检测系统含有白光及复合光源系统及人工智能演算法，可侦测多种尺寸与材质，像是反光物及特殊缺陷 (暗裂及微裂等瑕疵) ，最小检测元件尺寸可达0.4 X 0.2mm，加上检查精度可达1um，有效提升不良品检出率、降低批退率。
●统计数据分析，MES连线管理：
支持统计系统，完整搜集生产信息，可汇出统计系统及图表，并具备与制造执行系统 (MES) 连线功能，生产信息实时上传，提供制程改善依据，解决传统无法完整搜集、分析制程信息的问题。
图3 台达针对小型被动元件检测需求提出AI六面检查机，可应用于被动元件，集成电路、LED、陶瓷导热片等电子元件
台达AI六面检查机保留原有AOI优势，并结合AI人工智能，可应用在被动元件、集成电路、LED、陶瓷导热片等反光物及特殊缺陷的电子元件，节省整体检测作业时间、提升产品检出率与检出速度，减少产品误判率，使客户产品的批退率获得显著的改善。