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中国大恒（集团）有限公司北京图像视觉技术分公司
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  • 图象处理专用光源主要类型  
  • 发布时间：2008/1/23 12:39:48   修改时间：2008/1/23 12:39:48 浏览次数：2733
  • 图象处理专用光源主要类型
  • 沐光方式（直接型） 聚光方式（直接型） 低角度方式（直接型）
    　　高密度光输出，产生鲜明逼真的图像
    　
    LDR 系列
    　　采用CCS 独创的柔性板，高密度的LED 阵列排列在伞状结构中，在照明光源中心区域高度集中的光亮，这是LED 照明光源系统的标准模式。此种结构已被广泛的应用。
  • 检测IC 芯片上的印刷字符
  • 检测印刷电路板上的零件
  • 检测塑料盖上的污点
  • 标签检测

    SQR 系列
  • 检测液晶玻璃基板的标记
    		•  　　线型，聚光照明

    　 LN 系列
    　　结合圆柱形透镜，此照明光源系统可产生高强度的直线形光条。
  • 检测树脂产品z检测连接器
  • 检测胶片和纸张
    		• 　　模块边缘、光滑表面的划痕检测
    　
    LDR-LA 系列
    　　采用柔性板，创出最佳的倾斜角度。低角度的照明光源是边缘检测、金属表面的刻印和损伤检测的理想选择。
  • 读取发动机部件上的刻印标记
  • 晶片损伤检测
  • BGA 的焊点位置和面积检测
    LDR-LA-1 系列
    　　10mm 的超薄设计。
  • 玻璃基板、晶片的伤痕、脏污检测
  • 读取刻印字符
  • BGA 焊接球位置和面积测试
    • 条形方式（直接型） 低角度方式（间接型） 扁平环状方式（间接型）
    　　高密度的LED 阵列置于紧凑的、框形斜射光照明单元中
    　
    LDL/LDQ 系列
    　　照明光源角度几乎可被自由地设成任意角度。LDQ 系列中，四面的每个角度都可被独立设置。
  • 液晶文字检测z检测小型LCD 面板
  • 标签检测
  • 陶制品的外部和裂缝检测
  • 金属板表面检测
  • QFP、SOP 检测
    		•  　　均匀照明反光工作界面

    　
    FPR/FPQ 系列
    　　独创的光线导向技术用于非常均匀的照明表面。扩散的光线以低角度均匀地照射在物体表面上。FPQ 系列提供矩形矩阵的超薄照明光源。
  • BGA 焊接球位置和面积测试
  • 塑料瓶盖外侧、铝罐头底部检测
  • 高尔夫球的脏污检测
  • SOP，CSP 封装的字符检测
  • QFP，SOP 等的触角、外观检测
  • 检测PC 母板的模式
    		•  　　平滑、扩散的顶点光

    　
    LFR/ LKR / LAV-80 系列
    　　薄环照明光源系统只有12mm 厚，LFR 系列是顶部均匀照射光源。LKR 系列是圆锥形的照明光源，可对被测物体的任何角度进行照射。
  • 检测IC 芯片上的印刷字符
  • 检测电路板元件
  • 晶片外形检测（背光）
  • 检测橡胶类制品或焊接检测
  • 封盖标记、内侧、底部脏污检测
  • 检测镜头表面上的细小裂痕和碎屑
  • 检测液晶玻璃基板的标记
    • 圆形方式（间接型） 背光方式（透射型） 线条方式（透射型）
    　　用于表面光滑的曲面检测
    　
    LDM2/PDM系列
    　　散射的照明光可以对即使弯曲的金属表面进行均匀的照射。
  • 适合不平坦的光滑表面上文字的检测
  • 适合各种方向的均匀照明
  • 对罐头底部的标记进行检测
    		• 　　用于轮廓检测
    　
    LDL-TP/LDL/ LFL 系列
    　　用高密度LED 阵列面提供高强度背光照明。
  • 电子元件的外部检测
  • 检测透明底片等的污
  • SOP，CSP 检测
  • 液晶文字检测
  • 检测小型电子元件的尺寸和外形
  • 轴承的外观、尺寸检测
  • 半导体导线框的外观尺寸检测
    		•  　　线形传感器的最佳照明
    　
    LND 系列
    　　提供均匀照明。高亮度H 系列比标准A 系列亮度高两倍。
  • 包装破损检测
  • LCD 破损检测
  • 膨胀胶片破损检测
  • 遮蔽胶带破损检测
  • 伸展胶片破损检测
  • 迭片结构破损检测
  • 液晶部件检测
    • 同轴方式（同轴型） 平行光光学单元（特殊型） 多用途照明光源（特殊型）
    　　均匀照明反光工作界面

    　
    LFV/LFV2/FV-CP/LFV-5/LNV-300系列
    　　照明的光线同镜头视线呈同一轴向；同轴落射照明用于线形传感器，用于具有高反射性镜面的工作模块。
  • 金属、玻璃等光泽面的伤痕检测
  • 印刷、电路板的模式检测
  • 芯片和硅晶片的破损检测
  • 瓶口的裂缝和碎片检测
  • 检测玻璃电路板的表面伤痕
    		•  　　检测反光物体表面的划痕、凹痕和污渍
    　
    MSU 系列
    　　检测镜面的突起、划痕和凹痕。通过特殊透镜产生平行光。有10mm、30mm 和130mm 三种视场规格。
  • 检测如CD 和晶片等表面反光的物体上细小的划痕和凹陷
  • 读取二维代码
  • 检测光泽金属表面的毛刺和扭曲
    		• 　　按特殊要求设计定制
    　
    　
    CMR 系列/LV/LMR/MAC-13XA
    　　特殊照明系统，如体视显微镜照明光源，以及用于超小尺寸工作模块检测的高倍率镜头和其它专用照明。
         
    　　满足用于具有高亮度要求的线性扫描检测

    　
    HLND系列
    　　系列迄今为止最高亮，性能最佳的新一代线性照明
  • 标准型和高亮度型两种类型
  • 可制作从最小100mm,到最大2700mm的发光面
  • 采用ccs公司独创的特殊散热构造，有效提高散热效率
  • 采用一体型铝框体确保强度
  • LED发光有红色和白色供选择
    		• 　　适用于远距离大范围照明，在汽车行业有着广泛应用
    　

    HSL系列
  • 高亮度集光照明
  • 照射范围内
  • 具有良好的均匀性以及稳定性
  • 省电，寿命长，环保
  • 红、白、绿、蓝色可供选择

    		• 　　适用于各种印刷及封装检测等
    　
    　
    LFX系列
    　　    实现对物体均一无影的扩散光照射，不仅能像同轴落射照明那样照射表面光泽的被测物体，同时也能达到圆顶照明的效果。即使对曲面、凹凸的物体也能达到均一无影扩散光照射的效果。
  • 检测易拉罐底的印刷字符
  • 检测罐盖表面的外观成象
  • 检测塑封包装袋外观
  • 检测铝包装日期印刷
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　　大恒图像成立于1991年，是中国科学院下属企业，大恒图像的技术骨干主要来自中国科学院各研究单位，公司的产品和技术基础来源于中国科学院多年的技术积累。大恒图像是将高新技术成果转化为产品的高科技企业。 　　大恒图像自成立之日起，一直…  更多>>
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