德思特ADC/DAC芯片自动化测试系统专为应对高性能模数转换器（ADC）和数模转换器（DAC）的量产测试挑战而设计，凭借其创新的架构、卓越的性能和极具竞争力的成本，为半导体设计和制造企业提供了理想的测试解决方案。
核心功能与性能指标：
1.高精度、高速度的测试能力： TS-ATX7006A 支持高达 22 位分辨率和数 GSPS (千兆采样每秒) 采样率的 ADC/DAC 测试。其核心仪器模块具备出色的线性和噪声性能（THD < -100 dBc, SNR > 90 dB），能够精确测量 INL, DNL, ENOB, SFDR 等关键参数，满足 5G 通信、精密仪器等领域对数据转换器芯片的严苛要求。
2.高并行、高吞吐量的量产架构： 作为一款为量产而生的设备，ATX7006A 支持大规模并行测试，根据配置最高可同时测试数百个芯片（sites）。其独特的“仪器共享”架构和高效的测试程序，最大化地减少了测试时间，显著提升了单位小时产出（UPH），直接帮助客户降低了测试成本。
3.一体化的混合信号测试方案： TS-ATX7006A不仅仅是 ADC/DAC 测试仪。它集成了高性能的数字、电源（DPS）和时钟模块，能够为被测芯片（DUT）提供完整的测试环境。用户无需拼凑来自不同供应商的仪器，即可完成包括数字接口协议（SPI, I2C）、电源管理和时序特性的全面功能验证。
4.灵活的模块化设计： 系统采用模块化设计，客户可以根据当前被测芯片的具体需求（如通道数、精度、速度）灵活配置仪器板卡，并在未来根据产品路线图轻松进行扩展和升级。这种“量体裁衣”式的配置方式避免了不必要的初期投资。
5.强大的软件与分析工具： 配套的软件平台拥有直观的图形界面和丰富的测试库，简化了测试程序的开发流程。强大的数据分析工具能够实时生成直方图、FFT频谱图和统计报告，帮助工程师快速定位性能瓶颈和生产缺陷。
评比优势：
1.加速产品上市时间 (Time-to-Market)： 相较于传统的手动或半自动台架测试（Bench Test）方案，TS-ATX7006A 将测试效率提升了数个数量级。它将原本需要数天甚至数周的芯片特性表征工作，缩短到几小时内，为设计迭代和产品发布争取了宝贵的时间。
2.研发预算内的专业级测试方案： 高性能ADC/DAC的研发团队常常面临一个困境：要么使用昂贵且庞大的通用ATE（通常只有测试部门才有），要么忍受精度低、一致性差的临时台架。TS-ATX7006A以远低于大型ATE的成本，提供了专业级的测试精度和可重复性，使研发团队也能拥有属于自己的“小型ATE”，从而做出更明智的设计决策。
3.提升研发质量与信心： 手动台架的测试结果往往难以重复，无法保证数据质量。TS-ATX7006A提供了一个稳定、可靠的测试环境，其精准的测量结果能帮助工程师在流片前更有信心地发现并修复设计中的微小瑕疵，显著提高首次流片的成功率（First-Pass Success Rate）。
德思特ADC/DAC芯片自动化测试系统通过将专业ATE的能力小型化、桌面化，精准地解决了芯片研发阶段的测试痛点，是提升中国本土半导体设计能力、加速创新进程的关键工具。
